元器件性能耐久性测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.电性能稳定性：电阻变化，电容变化，电感变化，漏电流，绝缘电阻，耐电压，导通性能。

2.高温耐久性：高温存储，通电高温老化，高温负载保持，热稳定性，参数漂移，外观完整性。

3.低温耐久性：低温存储，低温工作，启动性能，恢复性能，参数保持性，结构完整性。

4.温度循环性能：冷热循环，热冲击后性能变化，焊点可靠性，封装开裂，界面剥离，尺寸稳定性。

5.湿热耐久性：恒定湿热，交变湿热，受潮后绝缘性能，表面腐蚀，电极氧化，性能衰减。

6.机械耐久性：振动耐受，机械冲击，跌落适应性，引线强度，端子牢固性，封装完整性。

7.耐焊接性能：可焊性，耐焊接热，焊端附着状态，焊后电性能，焊接外观，热损伤评估。

8.耐腐蚀性能：盐雾暴露，金属部位腐蚀，镀层完整性，接触面变化，表面变色，导电性能保持。

9.负载寿命性能：持续通电寿命，额定负载寿命，脉冲负载耐受，过载承受能力，寿命后参数变化，失效特征。

10.密封与防护性能：封装密封性，渗漏风险，防潮能力，绝缘介质稳定性，内部污染敏感性，外壳保护状态。

11.接触可靠性：接触电阻，插拔寿命，端接稳定性，接触磨损，导通连续性，接触失效表现。

12.材料老化性能：绝缘材料老化，封装材料脆化，粘接部位退化，介质性能变化，热老化后强度，表面劣化。

检测范围

电阻器、电容器、电感器、二极管、三极管、集成电路、晶体管、继电器、连接器、开关器件、保险器件、传感器、石英晶体元件、变压器、滤波器、发光器件、印制电路组件、贴片元件

检测设备

1.高低温试验箱：用于模拟高温、低温及温度变化环境，评估元器件在不同温度条件下的耐久性与性能稳定性。

2.温湿度试验箱：用于模拟湿热环境，考察元器件受潮、绝缘下降、腐蚀倾向及参数变化情况。

3.热冲击试验箱：用于实现快速冷热转换，检验封装结构、焊接部位及材料界面的耐热应力能力。

4.振动试验台：用于模拟运输和使用过程中的振动条件，评估元器件机械稳定性及连接可靠性。

5.冲击试验机：用于施加瞬时机械冲击载荷，检验元器件外壳、引脚及内部结构的抗冲击能力。

6.盐雾试验箱：用于模拟腐蚀环境，评价金属引线、电极、端子及镀层部位的耐腐蚀性能。

7.寿命老化试验系统：用于开展长时间通电或负载老化测试，监测元器件寿命期间的性能衰减与失效情况。

8.绝缘耐压测试仪：用于检测绝缘电阻、耐电压及泄漏情况，评估元器件电气安全与绝缘可靠性。

9.精密电参数测试仪：用于测量电阻、电容、电感及相关电性能参数，分析耐久试验前后的变化趋势。

10.显微观察设备：用于观察封装裂纹、焊点缺陷、表面腐蚀及材料老化现象，辅助判断失效部位与损伤特征。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质